光研科技自主研發(fā)的光斑分析儀Beamfiler可實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測及測試應(yīng)用。為客戶提供定制光束質(zhì)量分析一體化設(shè)計(jì)解決方案，并支持多應(yīng)用開發(fā)。產(chǎn)品精度可以完全代替進(jìn)口激光光束質(zhì)量分析儀。

通過光束分析裝置一體化設(shè)計(jì)，配套衰減方案設(shè)計(jì)，最小可測量直徑40μm光斑，支持實(shí)時曝光及增益調(diào)節(jié)。

該系統(tǒng)可以對連續(xù)可見激光光斑進(jìn)行采樣，分析得到激光光斑中心，半徑，橢圓比等，并對光強(qiáng)能量場進(jìn)行二維和三維顯示。可廣泛用于需要對激光光斑形狀進(jìn)行檢測得場合，如激光生產(chǎn)，維護(hù)以及激光應(yīng)用。也常用于光學(xué)器件質(zhì)量檢查，激光腔鏡調(diào)整，外光路準(zhǔn)直，光纖對準(zhǔn)耦合分析等。

自光研科技推出自研產(chǎn)品Beamfiler光斑質(zhì)量分析儀以來，已得到了國內(nèi)多家企業(yè)和科研院所的測試和使用。考慮到光斑質(zhì)量分析儀需求量巨大且國外產(chǎn)品價格高昂，光研科技已正式開展光束質(zhì)量分析儀定制化服務(wù)。目前已作為成熟產(chǎn)品在市場推廣，性價比很高，得到大量客戶認(rèn)同。

光研科技給客戶做的每個測試都會根據(jù)的具體需求做出最合理的解決方案，并盡可能提供相應(yīng)的公式或者依據(jù)。光研科技立志為更多的光學(xué)企業(yè)提供更優(yōu)質(zhì)的光束質(zhì)量分析系統(tǒng)！